聚偏氟乙稀壓電薄膜的質(zhì)量要求

 PVDF壓電薄膜，在國(guó)內(nèi)的應(yīng)用和批量商品化生產(chǎn)，僅是近十幾年才開(kāi)始的。對(duì)這種新產(chǎn)品，國(guó)內(nèi)還沒(méi)有關(guān)于PVDF壓電薄膜的產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，目前，生產(chǎn)單位僅從下面幾點(diǎn)檢測(cè)PVDF壓電簿膜的產(chǎn)品質(zhì)量。
①PVDF壓電薄膜的外觀檢查在距日光燈500mm處，檢査壓電薄膜的外表，要求薄膜的兩個(gè)金屬層極面，要平整、光滑、無(wú)任何劃傷痕、皺折紋和電暈擊穿孔洞。
②壓電薄膜平面上的厚度，在整個(gè)電極鍍層面內(nèi)，厚度允差要控制在±5μm內(nèi)。
③壓電薄膜表面上的金屬層電極，厚度要均勻，與PVDF薄膜表面附著強(qiáng)度要牢，電阻要控制在250mm距離的兩點(diǎn)檢測(cè)，不超過(guò)51^金屬膜與PVDF薄膜的表面附著牢度，用粘膠帶試驗(yàn)，粘牢金屬鍍層，然后扯拉開(kāi)粘膠帶，以金屬鍍層不脫落為合格。
④PVDF壓電薄膜的壓電性，生產(chǎn)廠以檢測(cè)壓電應(yīng)變常數(shù)為主。目前，生產(chǎn)壓電薄膜的厚度在3~600μm范圍內(nèi)，壓電應(yīng)變常數(shù)在18-35d33(10_uC/N)范圍內(nèi)（壓電應(yīng)變常數(shù)的大小與PVDF薄膜的厚度有關(guān)，膜厚壓電應(yīng)變常數(shù)值大〉。
壓電應(yīng)變常數(shù)值用ZJ-2型準(zhǔn)靜態(tài)測(cè)量?jī)x檢測(cè)。檢測(cè)方法：取面積為l0mmx50mm的膜片，檢測(cè)膜面上9點(diǎn)，把9點(diǎn)的檢測(cè)值的平均值做為該壓電薄膜的壓電應(yīng)變常數(shù)。
為了使檢測(cè)的壓電應(yīng)變常數(shù)值穩(wěn)定和準(zhǔn)確，一般在準(zhǔn)靜態(tài)d33測(cè)量?jī)x前加DF-1B、lkV交流凈化穩(wěn)壓電源。
ZJ-2型準(zhǔn)靜態(tài)測(cè)量?jī)x
PVDF壓電薄膜檢測(cè)壓電性能用儀器ZJ-2型準(zhǔn)靜態(tài)c/33測(cè)量?jī)x為直讀式，是測(cè)試各種壓電材料的壓電應(yīng)變常數(shù)d33值專用儀器。它既能測(cè)量壓電陶瓷的高壓電常數(shù)，又能測(cè)量壓電單晶的低壓電常數(shù)。
準(zhǔn)靜態(tài)七3測(cè)量?jī)x采用準(zhǔn)靜態(tài)法，這種測(cè)量方式比靜態(tài)法準(zhǔn)確，而且重復(fù)性好，優(yōu)點(diǎn)如下。
①測(cè)量用探頭與被測(cè)薄膜是點(diǎn)接觸，避免了靜態(tài)施力不均勻的缺點(diǎn)。
②測(cè)量時(shí)采用低頻交變力，避免了靜態(tài)法因熱釋電效應(yīng)引起的漂移。
③檢測(cè)時(shí)，施加在被檢測(cè)薄膜面上的力很小，避免了靜態(tài)法中常出現(xiàn)的壓電非線性。
④準(zhǔn)靜態(tài)七3測(cè)量?jī)x所測(cè)量值的精度與動(dòng)態(tài)法測(cè)量值接近，而且操作簡(jiǎn)單，使用方便。
PVDF壓電薄膜的厚度尺寸檢測(cè)儀器
PVDF壓電薄膜的厚度尺寸檢測(cè)，在生產(chǎn)中，如擠塑成型膜片時(shí)，在膜片拉伸時(shí)，在壓電膜的金屬極層蒸鍍后，都要進(jìn)行檢測(cè)。在生產(chǎn)過(guò)程中的厚度尺寸檢測(cè)，一般都用千分尺。使用前千分尺要標(biāo)準(zhǔn)：千分尺的兩測(cè)量柱端面接觸后，尺標(biāo)上數(shù)值應(yīng)對(duì)準(zhǔn)零位。
PVDF壓電薄膜的成品檢測(cè)，可用紙張厚度儀檢測(cè)PVDF壓電薄膜的厚度，這種儀器檢測(cè)操作方便，檢測(cè)值也比較準(zhǔn)確。